SGW X-4 аппарат с температурой плавления и микроскопом
Характеристики
Этот продукт используется для определения температуры плавления вещества. В основном используется для определения кристаллических органических соединений, таких как фармацевтика, химикаты, текстиль, топливо и духи. Прибор Микроскопически наблюдается и можно измерить с помощью капиллярного метода или при помощи скользящего метода слайда (метод горячего стола).
Технические характеристики
Параметры/модель
SGW X-4
Диапазон измерения температуры плавления
Комнатная температура
Повторяемость
200
200-320
Режим наблюдения
Монокулярный микроскоп
Оптическое увеличение
10 X (объектив для глаз)
4X (объектив)
Вес нетто
4,5 кг
Размеры
300 мм * 220 мм * 440 мм